Разработка и внедрение АПАК для поиска дефектов изделий микроэлектроники с помощью искусственного интеллекта

Часть 18. Организационная система автоматизированной инспекции качества покрытий изделий электронной техники золотом и никелем методом рентгенофлуоресцентного анализа

Статья Евстифеева Юрия, Дормидошиной Дарьи, Рубцова Юрия, Ключникова Евгения, АО «ЦКБ «Дейтон», Ключникова Валерия, АО «Завод «Марс» в журнале "Электронные компоненты" №8/2026

В этой части статьи представлены результаты создания и внедрения организационной системы автоматизированной инспекции качества покрытий ИЭТ золотом и никелем методом рентгенофлуоресцентного анализа.

Статья по ссылке: https://russianelectronics.ru/razrabotka-i-vnedrenie-apak-dlya-poiska-defektov-izdelij-mikroelektroniki-s-pomoshhyu-iskusstvennogo-intellekta-chast-18/

Оформить подписку на журнал Электронные компоненты

Размещение материалов в журнале

#новостиэлектроники