От функционального тестирования к диагностике: как данные автоматизированных испытаний помогают выявлять скрытые дефекты электронных изделий

Доклад Татьяны Красик, PhD, IEEE Senior Member, независимого исследователя, эксперта в области RF/microwave-измерений и автоматизированного тестирования

https://vkvideo.ru/video-177228143_456239501?list=ln-zO3iYOxmfhEZNUyVi5