На текущем семинаре кафедры:

Тема доклада:
"Физические основы метрологии сканирующей зондовой микроскопии в исследовании нанообъектов"
(по материалам кандидатской диссертации)
 

Автор: Яминский Дмитрий Игоревич

⏰Когда? Среда, 7 октября в 15:20
📍Где? Ауд. 5-50
Просмотры: 27
Открыть в MAX Сообщить о неточности

Сообщить о неточности

Опишите, что нужно исправить. Если есть источник, добавьте ссылку.

Вы покидаете datool.ru

Ссылка ведёт на внешний сайт. datool.ru не отвечает за его содержимое — проверьте адрес, прежде чем вводить пароли или платёжные данные.

Переход через 10 с

Перейти